Sub-30 Nm Sample Preparation And Limited-Angle Stem Tomography H/F CEA
- Grenoble - 38
- Stage
- Industrie high-tech • Telecom
Les missions du poste
As semiconductor devices become smaller and more complex, structural information from 2D STEM images becomes harder to interpret because projection effects and overlapping features through conventional FIB lamellae can obscure nanoscale structures.
The internship will improve both sample preparation and STEM characterization. Lamellae thinner than 30 nm will be prepared using FIB milling followed by low-energy argon-ion polishing.
Limited-angle electron tomography will then reconstruct the central slice of the FIB lamella to reduce projection effects. The results will be compared with a full 3D volume reconstructed using deep-learning approaches.
Le profil recherché
Master 2 in materials science, physics or equivalent, with programming skills.
Les avantages
- Télétravail jusqu’à 3 jours par semaine
- 52 jours de congés/RTT
- Possibilité d’aménagement du temps de travail
- Formation personnalisée
- Restauration d’entreprise
- Offre de transport interne et prise en charge Navigo and co,
- Mutuelle d’entreprise avantageuse
- CE (aides vacances, loisirs, frais de garde, scolarité des enfants etc
Les étapes de recrutement
Les étapes de recrutement peuvent varier selon l'offre à laquelle vous postulez.
-
Dépôt de CV via notre site carrière
-
Préqualification téléphonique
-
Entretiens et évaluation avec manager et RH
-
Négociation salariale et contrat de travail
-
Embauche et intégration
-
CEA en images
Publiée le 22/10/2026 - Réf : 2026-42234
